دراسة الخصائص التركيبية لاغشية SnO2 باعتماد طريقة Modified Reiteveled Method

الملخص

تم في هذا البحث تحديد بعض الخواص التركيبية ككثافة العيوب الموضعية Dislocation density، الحجم الحبيبي Grain size، معامل التشكيل Shape factor ومعامل الخشونة Texture coefficient  باعتماد طريقة Modified Reiteveled Method من خلال تحليل طيف حيود الاشعة السينية وهذه الطريقة تسمى Line Profile Analysis، لاغشية SnO₂ المحضرة بطريقة الرش الكيميائي الحراري والمرسبة على قواعد زجاجية عند درجة حرارة 250^oC ذات التركيب متعدد التبلور. حيث اشارت النتائج ان كثافة العيوب الموضعية تزداد مع زيادة عرض قمة المنحني لطيف حيود الاشعة السينية للمركب وهذا ناتج عن زيادة كل من التشاكه الاتلافي الذي يحصل داخل حبيبات المادة Coherent Domain Size وزيادة المطاوعة المايكروية Micro strain، اما الحجم الحبيبي فكان مرتبط بالشدة حيث كانت اعلى شدة تقابلها اوطئ قيمة للحجم الحبيبي وايضا معامل الخشونة يرتبط بقيمة كل من الشدة المقاسة عملياً والشدة المقاسة من بطاقة ASTM ويكون معامل التشكيل للمركب اعلى ما يمكن عندما يكون عرض القمة للمستوى اقل ما يمكن.